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揭秘定心儀：高精度光學(xué)系統(tǒng)裝調(diào)導(dǎo)語：在光學(xué)系統(tǒng)的精密裝調(diào)中，定心儀作為必須工具，其重要性不言而喻。隨著光學(xué)行業(yè)的飛速發(fā)展，對(duì)成像質(zhì)量要求的不斷提升，傳統(tǒng)的被動(dòng)裝調(diào)法已難以滿足中高光學(xué)系統(tǒng)的需求。今天，我們就來深入揭秘定心儀——這一光學(xué)裝調(diào)領(lǐng)...
白光干涉儀能夠在同一測(cè)試平臺(tái)上運(yùn)行多種測(cè)試，產(chǎn)品的組合可根據(jù)不同的技術(shù)應(yīng)用要求而改變。針對(duì)樣品的同一區(qū)域可進(jìn)行不同模式的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)，模式切換可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化。多項(xiàng)技術(shù)的整合能夠使不同技術(shù)在同一檢測(cè)儀上充分發(fā)揮各自的優(yōu)勢(shì)。該項(xiàng)整合技術(shù)不僅有利于數(shù)據(jù)的綜合分析，也可以減少維護(hù)成本，從而提高效率。白光干涉儀工作原理：白光干涉儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測(cè)量?jī)x器。照明光束經(jīng)半反半透分光鏡分成兩束光，分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個(gè)表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成...
接近式光刻機(jī)在單室設(shè)計(jì)上可以滿足研發(fā)工作，與EVG的自動(dòng)化系統(tǒng)*兼容。EVG101支持大300mm的晶圓，可配置為旋涂或噴涂和顯影。使用EVG先進(jìn)的OmniSpray涂層技術(shù)，在3D結(jié)構(gòu)晶圓上實(shí)現(xiàn)光刻膠或聚合物的共形層，用于互連技術(shù)。這確保了高粘度光致光刻膠或聚合物的低材料消耗，同時(shí)改善了均勻性并防止了擴(kuò)散。它的分類：接近式光刻機(jī)一般根據(jù)操作的簡(jiǎn)便性分為三種，手動(dòng)、半自動(dòng)、全自動(dòng)1、手動(dòng)：指的是對(duì)準(zhǔn)的調(diào)節(jié)方式，是通過手調(diào)旋鈕改變它的X軸，Y軸和thita角度來完成對(duì)準(zhǔn)，對(duì)準(zhǔn)精...
您還在為低頻振動(dòng)為電鏡帶來的干擾而苦惱嗎？您還在為選擇怎樣的防震設(shè)施而苦惱嗎？您還在為防震設(shè)備的性能而擔(dān)憂嗎？好消息，我們一次為您解決以上所有的問題，進(jìn)口的AVI系列主動(dòng)式防震臺(tái)，現(xiàn)在可以免費(fèi)試用了，不需增加SEM高度的方案！只需調(diào)節(jié)平衡角就能完成安裝的方案??！同時(shí)提供場(chǎng)地的免費(fèi)測(cè)量服務(wù)！！預(yù)約樣機(jī)試用處：請(qǐng)與岱美有限公司聯(lián)系期待您的來電??！為了證實(shí)主動(dòng)式防震臺(tái)可以對(duì)各種納米級(jí)分辨率顯微鏡（STM、SEM、TEM），因減振后令成像質(zhì)量提升的各種說法及疑慮，岱美中國于今年初引入...
納米壓痕儀是近期比較受關(guān)注的一個(gè)儀器，可能很多人都不知道它到底是干嘛的，有什么特性，今天岱美儀器小編就帶大家來詳細(xì)了解下它的結(jié)構(gòu)功能特性以及在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用情況。我們先了解它的性能，納米壓痕儀能通過實(shí)時(shí)記錄力和對(duì)應(yīng)位移深度的曲線來測(cè)量納米或微米級(jí)薄膜材料力學(xué)性能。該儀器不僅提供納米壓痕功能，同時(shí)也提供納米劃痕功能和臺(tái)階儀功能，不僅可以滿足薄膜硬度、彈性模量等性能的測(cè)量，還可實(shí)現(xiàn)薄膜與基體之間的結(jié)合力和定量表面形貌的測(cè)量。其電磁驅(qū)動(dòng)器具有很好的力和位移動(dòng)態(tài)范圍，可測(cè)量6個(gè)數(shù)量級(jí)...
膜厚儀又叫膜厚測(cè)試儀，可應(yīng)用于在線膜厚測(cè)量，測(cè)氧化物，SiNx，感光保護(hù)膜和半導(dǎo)體膜。也可以用來測(cè)量鍍?cè)阡?，鋁，銅，陶瓷和塑料等上的粗糙膜層。薄膜表面或界面的反射光會(huì)與從基底的反射光相干涉，干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān)，因此可通過計(jì)算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損，精確且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)，薄膜測(cè)量系統(tǒng)采用光干涉原理測(cè)量薄膜厚度。膜厚儀符合了(GB/T4957-2003)中的渦流法以及(GB/T4956-2003)中的磁性法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。一般根據(jù)原理不同可分為3...
